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仪表网 会议报道】 9月23日下午，由我校分析测试中心主办的“Merlin T4 直接电子探测器技术交流会”在学校将军路校区JD10楼B237会议室顺利举行。本次会议聚焦于电子显微领域的前沿探测技术，吸引了30余名师生参与交流。
会议首场报告由Quantum Detectors Ltd.的Matus Krajnak博士带来，题为《Event- and Frame-based detection with Merlin T4 for Transmission Electron Microscopy》。报告中，Krajnak博士首先系统介绍了相关技术背景，随后重点讲解了Merlin T4所采用的事件驱动采集与超快4D-STEM成像这一革命性技术，阐述了其如何实现极高时间分辨率的数据捕获。最后，通过基于帧的成像技术对斯格明子(Skyrmions)的动态TEM成像的精彩案例，生动展示了该技术在观测拓扑磁性粒子等纳米尺度动态现象中的强大能力。整场报告层层深入，展现了先进表征技术为材料科学研究开辟的新视野。
第二场报告由上海荟尚仪器有限公司的刘为燕工程师主讲，题目为《旋进电子衍射基本原理及其应用》。报告系统阐述了旋进电子衍射技术通过电子束偏离光轴入射样品，有效减弱动力散射，获得准运动学强度的衍射花样，从而实现对纳米晶体结构的高精度定量分析。她指出该技术可快速获取晶体取向、相分布、晶界、应变等多维信息，为材料微观结构研究提供有力支撑。
南京航空航天大学分析测试中心作为本次会议的承办单位，一直致力于推动高端显微分析技术的应用与发展。此次技术交流会不仅为校内外研究人员提供了深入了解前沿探测器技术的平台，也促进了学术界与产业界的深度合作。未来，类似的技术交流活动将持续举办，助力学校电子显微学及相关研究领域迈向新台阶。
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